Файл:AFMimageRoughGlass20x20.JPG

Матеріал з Вікіпедії — вільної енциклопедії.
Перейти до навігації Перейти до пошуку

AFMimageRoughGlass20x20.JPG(398 × 308 пікселів, розмір файлу: 41 КБ, MIME-тип: image/jpeg)

Wikimedia Commons logo Відомості про цей файл містяться на Вікісховищі — централізованому сховищі вільних файлів мультимедіа для використання у проектах Фонду Вікімедіа.
Опис Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM used was the Veeco di CP-II, scanned in contact mode. Constructed at the Nanorobotics Laboratory at Carnegie Mellon University (http://nanolab.me.cmu.edu).
Час створення (UTC)
Джерело
Автор
Я, власник авторських прав на цей твір, добровільно публікую його на умовах такої ліцензії:
Public domain Я, власник авторських прав на цю роботу, передаю роботу в суспільне надбання. Застосовується по всьому світу.
У деяких країнах це не може бути юридично можливо, в такому випадку:
Я даю кожному право на використання цієї роботи для будь-яких цілей, без будь-яких умов, якщо такі умови не вимагаються за законом.

Журнал завантажень локального файлу

This image is a derivative work of the following images:

  • File:AFMimageRoughGlass20x20.png licensed with PD-self
    • 2009-02-19T17:43:06Z Linforest 401x326 (191303 Bytes) {{Information |Description=Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) =

Uploaded with derivativeFX

Підписи

Додайте однорядкове пояснення, що саме репрезентує цей файл

Об'єкти, показані на цьому файлі

зображує

41 878 байт

308 піксель

398 піксель

Історія файлу

Клацніть на дату/час, щоб переглянути, як тоді виглядав файл.

Дата/часМініатюраРозмір об'єктаКористувачКоментар
поточний23:33, 14 липня 2009Мініатюра для версії від 23:33, 14 липня 2009398 × 308 (41 КБ)Materialscientist{{Information |Description=Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM

Така сторінка використовує цей файл:

Глобальне використання файлу

Цей файл використовують такі інші вікі: