Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

Матеріал з Вікіпедії — вільної енциклопедії.
Перейти до навігації Перейти до пошуку
[перевірена версія][перевірена версія]
м (→‎Принцип дії: replaced: зворотньо → зворотно за допомогою AWB)
м (Перенесено 34 інтервікі-посилань до Вікіданих (Q49295))
Рядок 19: Рядок 19:


{{Link GA|de}}
{{Link GA|de}}

[[ar:مجهر القوة الذرية]]
[[bg:Атомно-силов микроскоп]]
[[bs:Mikroskopija atomskih sila]]
[[ca:Microscopi de forces atòmiques]]
[[cs:Mikroskopie atomárních sil]]
[[da:Atomar kraftmikroskop]]
[[de:Rasterkraftmikroskop]]
[[en:Atomic force microscopy]]
[[es:Microscopio de fuerza atómica]]
[[et:Aatomjõumikroskoopia]]
[[fa:میکروسکوپ نیروی اتمی]]
[[fi:Atomivoimamikroskooppi]]
[[fr:Microscope à force atomique]]
[[he:מיקרוסקופ כוח אטומי]]
[[hi:परमाण्विक बल सूक्ष्मदर्शी यंत्र]]
[[hy:Ատոմական ուժային մանրադիտակ]]
[[id:Mikroskop gaya atom]]
[[it:Microscopio a forza atomica]]
[[ja:原子間力顕微鏡]]
[[ko:원자간력 현미경]]
[[lv:Atomspēku mikroskops]]
[[mr:आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक यंत्र]]
[[nl:Atoomkrachtmicroscoop]]
[[no:Atomkraftmikroskop]]
[[pl:Mikroskop sił atomowych]]
[[pt:Microscópio de força atômica]]
[[ru:Сканирующий атомно-силовой микроскоп]]
[[simple:Atomic force microscope]]
[[sr:Микроскоп атомских сила]]
[[sv:Atomkraftsmikroskopi]]
[[ta:அணுவிசை நுண்ணோக்கி]]
[[tr:Atomik kuvvet mikroskobu]]
[[vi:Kính hiển vi lực nguyên tử]]
[[zh:原子力显微镜]]

Версія за 02:02, 22 березня 2013

Блок-схема атомного силового мікроскопа

Атомний силовий мікроскоп (англійське скорочення: AFM) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати зображення поверхні зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.

Принцип дії

В атомному силовому мікроскопі поверхню сканує тонкий щуп, розташований на кінці консольної балки, яку називають кантилевером. Високоточне переміщення поверхні під щупом забезпечують п'єзоелектричні елементи, які змінюють свою довжину в залежності від прикладеної напруги. Рухаючись над нерівною поверхнею, щуп підіймається і опускається, і ці дуже малі вертикальні переміщення детектуються за допомогою лазерного променя, який падає на верхню поверхню консольної балки з прикріпленим дзеркалом. Хоча вертикальні переміщення дзеркала дуже малі, відбитий від нього промінь відхиляється на кут, досить значний, щоб його можна було виміряти за допомогою матричного фотодетектора. Отриманий сигнал аналізується за допомогою електроніки й перетворюється в зображення поверхні. Для забезпечення постійної сили між поверхнею та щупом і запобігання пошкоджень, використовується електронний механізм зворотного зв'язку.

Історія

Атомний силовий мікроскоп винайшли Келвін Квейт та Крістоф Гербер 1986 року, майже одразу ж після винаходу скануючого тунельного мікроскопа. До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на поверхі.

Див. також

Посилання


Шаблон:Link GA