Метод Рітвельда

Матеріал з Вікіпедії — вільної енциклопедії.
Перейти до: навігація, пошук

Метод Рітвельда — методика обрахунку експериментальних даних розроблена та опублікована у 1969[1] році Гуґо Рітвельдом (Hugo M. Rietveld) для характеристики кристалічних матеріалів методом порошкової дифракції. Дифракція нейтронів чи рентгенівських променів з порошку зразків фіксується на дифрактограмах — графіках що характеризуються відбиттями (піками інтенсивностей) розташованими на певних місцях брегівських кутів, які фіксуються приладом (дифрактометром). Висота, ширина і положення цих піків можуть бути використані для визначення багатьох аспектів структури матеріалів.

Метод Рітвельда використовує метод найменших квадратів для уточнення і наближення теоретичної лінії всього профілю дифрактограми до її екпериментально поміряного профілю. Введення у вжиток цього методу було значним кроком вперед у методі дифракції порошку. На відміну від інших методів, він дозволяє аналізувати кристалічні структури порошків, та отримувати надійні результати навіть з дифрактограм в яких перекриваються відбиття від декількох окремих кристалічних фаз.

Метод був вперше апробований на дифракції монохроматичного нейтронного випромінювання, де відбиття зафіксовані у 2θ кута Брегга. Ця методика може використовуватися однаковою мірою і до альтернативних масштабів, таких як енергія відбитих рентгенівських променів чи нейтронів, час прольоту та ін.

Принцип[ред.ред. код]

Приклад уточнення дифрактограми порошку за Методом Рітвельда. Верхня крива - експериментально поміряня дифрактограма, нижня крива - різниця між теоретично розрахованою за методом Рітвельда та екпериментальною дифрактограмами порошку. Між ними розташовані положення бреггівських рефлексів.

Діаграма дифракції полікристалічної речовини (рентгенівського, нейтронного випромінювання) розглядається як математична функція залежності інтенсивності піків дифракції від кута дифракції і яка в свою чергу залежить від параметрів кристалічної структури та параметрів приладу. Виходячи з цього за допомогою методу найменших квадратів проводиться уточнення інструментальних параметрів та кристалічної структури (чи структур у зразку, що містить більш як одну фазу) досягаючи при цьому найкращого припасування теоретично розрахованого профілю дифрактограми до експериментально поміряного профілю та найменшого значення факторів розбіжності.

У методі використовується принцип мінімізації функції М, яка аналізує разницю між розрахованими y(calc) та спостережуваними y(obs) профілями дифрактограм:

 M = \sum_{i} W_i \left \{ y_i^{obs} - \frac{1}{c} y_i^{calc} \right \}^2

де Wi статистична вага і c загальний скалярний фактор для y^{calc} = c y^{obs}

Примітки[ред.ред. код]

  1. H. M. Rietveld (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography 2. с. 65–71. doi:10.1107/S0021889869006558. 

Джерела[ред.ред. код]

  • H. M. Rietveld: The Rietveld Method: A Retrospection. Z. Kristallogr. 225 (2010), S. 545—547. DOI:10.1524/zkri.2010.1356 (PDF)(англ.)
  • R. A. Young: The Rietveld Method, Oxford University Press, ISBN 0-19-855577-6 (англ.)
  • Rudolf Allmann: Röntgen-Pulver-Diffraktometrie, Verlag Sven von Loga, ISBN 3-87361-029-9 (нім.)
  • C. Giacovazzo: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, ISBN 0-19-855578-4 (англ.)