Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

Перейти до навігації Перейти до пошуку
нема опису редагування
[[Файл:Atomic force microscope block diagram.svg|thumb|Блок-схема атомного силового мікроскопа]]
[[File:AFM3.jpg|thumb|Зображення, отримане за допомогою атомного силового мікроскопу. На зображенні тонка плівка металу]]
'''Атомно-силовий мікроскоп''' (англійське скорочення: AFM ''— atomic-force microscope'' ) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати [[зображення]] [[поверхня|поверхні]] зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
 
==Атомна силова мікроскопія==
Мікроскопія, що використовується для відтворення вигляду
Анонімний користувач

Навігаційне меню