3D-сканер

Матеріал з Вікіпедії — вільної енциклопедії.
Перейти до: навігація, пошук
3D-сканер використовується для створення 3D-анімації і спецефектів

3D-сканер — пристрій, який аналізує об'єкт або середовище реального світу для збору даних щодо його форми і, якщо можливо, кольору. Зібрані дані потім використовуються для побудови цифрових тривимірних моделей.

Для створення пристроїв 3D-сканування може бути використано багато різноманітних технік; кожна технологія має свої особливості, обмеження і вимагає різних витрат. Більшість обмежень стосуються видів об'єктів, які можуть бути оцифровані, які досі не вирішені до кінця. Наприклад, більшість оптичних технологій матиме складнощі з обробкою блискучих, дзеркальних або прозорих об'єктів. Наприклад, промислова комп'ютерна томографія може використовуватись для побудови цифрових 3D-моделей, застосовуючи неруйнівний контроль.

Зібрані таким чином 3D-дані є корисними для широкого кола застосувань. Ці пристрої широко використовуються в індустрії розваг: у виробництві фільмів і відеоігор. Інші поширені застосування цієї технології включають промисловий дизайн, біопротезування і протезування, зворотна розробка і прототипування, контроль якості, спостереження і документування артефактів при виробництві.

Див. також[ред.ред. код]

Посилання[ред.ред. код]

  • Changsoo Je, Sang Wook Lee, and Rae-Hong Park. High-Contrast Color-Stripe Pattern for Rapid Structured-Light Range Imaging. Computer Vision — ECCV 2004, LNCS 3021 (8th European Conference on Computer Vision, Prague, Czech Republic, May 2004, Proceedings, Part I), pp. 95–107, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, May 10, 2004.
  • Katsushi Lkeuchi (28 May – 1 June 2001). Modeling from Reality. 3rd International Conference on 3-D Digital Imaging and Modeling : proceedings, Quebec City, Canada. Los Alamitos, CA: IEEE Computer Society. с. 117–124. ISBN 0-7695-0984-3. 
  • Raymond A. Morano, Cengizhan Ozturk, Robert Conn, Stephen Dubin, Stanley Zietz, Jonathan Nissanov "Structured Light Using Pseudorandom Codes" IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence — TPAMI, vol. 20, no. 3, pp. 322–327, 1998