Атомно-силовий мікроскоп: відмінності між версіями
Перейти до навігації
Перейти до пошуку
| [неперевірена версія] | [неперевірена версія] |
Вилучено вміст Додано вміст
Немає опису редагування |
Немає опису редагування |
||
| Рядок 4: | Рядок 4: | ||
*[[Скануючий тунельний мікроскоп]] |
*[[Скануючий тунельний мікроскоп]] |
||
[[Категорія: |
[[Категорія:Фізика поверхні] |
||
[[en:Atomic force microscopy]] |
[[en:Atomic force microscopy]] |
||
Версія за 21:39, 29 лютого 2012
Атомний силовий мікроскоп — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати зображення поверхні зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
Дивіться також
[[Категорія:Фізика поверхні]