Тунельний мікроскоп
Сканувальна тунельна мікроскопія (СТМ) (англ. scanning tunneling microscope) — метод дослідження детальної структури електропровідної поверхні з атомною точністю. В основі його лежить використання тунельного ефекту, що здійснюється так: до кінчика тоненької (молекулярних розмірів) голки, що розміщена над поверхнею, прикладається певна (дуже мала) напруга, що викликає невеликий квантово-механічний тунельний струм для подолання енергетичного бар'єра між кінчиком голки та поверхнею. За величиною цього струму створюється топографічна карта поверхні. Збільшення напруги може привести до зміщення атомів поверхні або й викликати хімічну реакцію.
Історія[ред. | ред. код]
Тунельний мікроскоп винайшли Герд Біннінг і Генріх Рорер зі швейцарського відділення IBM, за що отримали Нобелівську премію з фізики за 1986 рік разом із винахідником електронного мікроскопа Ернстом Рускою. У своєї Нобелівської лекції Рорер і Біннінг написали:
|
…Через приблизно два роки, незадовго до одержання перших зображень, ми довідалися про статтю Р. Янга зі співавторами[1], у якій було дано опис польового випромінюючого мікроскопа, названого авторами «топографайнером» (topografiner). Цей мікроскоп мав багато спільного зі СТМ, якщо не вважати того, що вістря розташовувалося досить далеко від поверхні … Якби вони оцінили хоча б теоретично роздільну здатність тунелювання при скануванні, те, імовірно, прийшли б до нової ідеї — Сканувальної Тунельної Мікроскопії. Вони підійшли до цієї ідеї ближче, ніж хто-небудь інший.[2] | 
|
Див. також роботи Рассела Янга, що були надруковані значно раніше [3][4]
Принцип дії[ред. | ред. код]
Принцип дії тунельного мікроскопа заснований на пропусканні тунельного струму між тонким щупом і поверхнею. Щуп сканує поверхню в горизонтальній площині і переміщається у вертикальній площині таким чином, щоб підтримувати струм на постійному рівні. Вертикальні переміщення задаються прикладеною напругою, яка й фіксується для кожної точки поверхні, дозволяючи побудувати рельєф.
Див. також[ред. | ред. код]
- Мікроскоп
- Атомний силовий мікроскоп
- Денситометрія електронної хмарки
- Нанотехнології
- Nanocar
- Сканувальний зондовий мікроскоп
- IBM в атомах
- Хлопчик і його атом
Література[ред. | ред. код]
- Бинниг Г., Рорер Г., Руска Э. Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения до юности: Нобелевськая лекция. / Атомы «глазами» электронов. — М.: Знание, 1988.
- Глосарій термінів з хімії / уклад. Й. Опейда, О. Швайка ; Ін-т фізико-органічної хімії та вуглехімії ім. Л. М. Литвиненка НАН України, Донецький національний університет. — Дон. : Вебер, 2008. — 738 с. — ISBN 978-966-335-206-0.
Примітки[ред. | ред. код]
- ↑ |R. Young, J. Ward, and F. Scire, The Topografiner: An Instrument for Measuring Surface Microtopography, Rev. Sci.Instrum. 43, 999—1011 (1972).
- ↑ Binnig G., Rohrer Н. Scanning Tunneling Microscopy — From Birth to Adolescence: Nobel Lecture. Stockholm December 8, 1986.
- ↑ R. D. Young, Field Emission Ultramicrometer, Rev. Sci. Instrum.37, 275—278 (1966).
- ↑ R. D. Young, Surface microtopography, Phys. Today 24 (11),42-49 (1971).
|
Це незавершена стаття з фізики. Ви можете допомогти проєкту, виправивши або дописавши її. |